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设备名称：x射线荧光光谱仪型号：axiosmaxpw4400/40品牌：荷兰帕纳科用途金属材料、矿物质及其他无机物材料样品中的元素及化合物含量的测定。技术参数：稳定性：0.0023%精密度：0.1%我公司光谱分析与化学分析拥有德国oblf
